所以通过沙尘试验箱就能够模拟各种沙尘侵入的场景，通过对电子芯片进行沙尘试验，可以很好的找到电子芯片的设计防护缺陷。
  
　　电子芯片的防尘测试主要研究不同颗粒大小的沙尘粒对电子芯片造成的影响。试验的目的一是检测电子产品的外壳对内部芯片及其他元件的防护情况，二是想要了解粉尘侵入对芯片的影响，以及是否会发生短路起火的现象。通过沙尘试验箱来制造不同温度、湿度的环境，并使用不同的沙尘浓度来对电子芯片进行测试。
 
        在对电子芯片进行防尘测试时，一般采用常规灰尘颗粒大小的粉尘作为试验源。电子芯片要求的防尘等级一般在IP5或者IP6，旨在 防护粉尘的进入，或者粉尘进入以后不影响芯片元件的正常运行。一般对于电子芯片的防尘测试，都是以IP6 高等级的防护来进行的，因为沙尘堆积过多，会造成电子芯片的损害，所以 绝尘才是 好的防护方式。